泰尔测试………………………・ Ｖ１＿ｒＩ－Ｔｅｓｔ 频输出口处测量。３ＧＰＰ标准要求基站杂散发射的测 量从基站工作的第一个和最后一个载波偏移 移动通信网无线接入网络设备技术要求》中的 ８．２．４．２．３，其中规定除了要满足Ｂ类要求外还应满 足表２中的要求。 １２．５ ＭＨｚ以外开始测量。而在基站工作频率偏移 ±１２．５ ＭＨｚ以内的无意发射，我们把它称为带外发 射。带外发射是由调制过程和发射机非线性引起的， 带外发射的测量参数包括频谱发射模版（ｓｐｅｃｔｒｕｍ ｅｍｉｓｓｉｏｎ ｍａｓｋ）和邻道功率比（ＡＣＰＲ：Ａｄｊａｃｅｎｔ Ｃｈａｎ— ｎｅｌ Ｐｏｗｅｒ Ｒａｔｉｏ）。 ２使用频谱分析仪测量杂散发射 需要考虑的问题 杂散发射使用频谱分析仪测量，从限值的要求我 们可以看出，ＷＣＤＭＡ基站杂散的测试，要求频谱分析 仪具有良好的动态范围，尤其是在１ ７１０—１ ７８５ ＭＨｚ 频段，ＷＣＤＭＡ基站杂散的限值达到了一９８ ｄＢｍ，这 是一个很严酷的指标，而基站的发射功率最大为 杂散发射的测量频率范围是从９ ｋＨｚ一１２．７５ ＧＨｚ。３ＧＰＰ ＴＳ２５．１０４列出了两类基站杂散测量限 值。Ａ类是通用和较为宽松的限值，Ｂ类限值适用于 欧洲，如表１中Ａ类和Ｂ类两种限值的差别是２３ ｄＢ。杂散限值都用ｄＢｍ表示。 ４７ ｄＢｍ，对于频谱分析仪来说，需要合理地进行设 置，才能完成测量。 除非特殊声明，杂散使用平均功率测量。３ＧＰＰ 对于基站的一致性测试定义了４种测试模式，杂散 频谱分析仪的动态范围主要受以下几个因素的 测试使用测试模式１。除了３ＧＰＰ的Ｂ类限值外，杂 散还应满足各国／地区的要求。同时，杂散的限值和 基站的工作频率有关，国内ＷＣＤＭＡ使用的频段 为：（上行：移动台发射，基站接收） 影响：仪器固有的噪声本底，频谱分析仪测量低电平 的相噪特性和测量高电平时的压缩，其中，由于杂散 测量离载波的频偏较大，相噪特性对测量的影响较 小。 １９２２．４—１９７７．６ＭＨｚ（下行：基站发射，移动台接 收）２１１２．４～２１６７．６ ＭＨｚ。 通过分析频谱分析仪的技术指标，可以计算出 在杂散的不同测量频段，仪表的动态范围和本底是 否能满足测试要求。另外，杂散测试要求测量平均功 率，在测量时也要注意检波方式和测量点数的选择。 在我国，ＷＣＤＭＡ型号核准的杂散测试依据的 限值是ＹＤ／Ｔ １５５２—２００７（（２ＧＨｚ ＷＣＤＭＡ数字蜂窝 表１杂散限值 频带 ９ｋＨｚ－１ ５０ｋＨｚ １ ５０ｋＨｚ一３０ＨＨｚ ３０Ｍ Ｈｚ－１ＧＨｚ 最大值 －３６ ｄＢｍ －３６ ｄＢｍ －３６ ｄＢｍ 测量带宽 １ ｋＨｚ ｌ０ ｋＨｚ ｌＯ０ ｋＨｚ 说明 Ｂａｎｄｗｉｄｔｈ ａｓ ｉｎ ＩＴＵ—Ｒ ＳＭ．３２９—７．ｓ４．１ Ｂａｎｄｗｉｄｔｈ ａｓ １ｎ ＩＴＵ—Ｒ ＳＭ．３２９—７．ｓ４．１ Ｂａｎｄｗｉｄｔｈ ａｓ ｉｎ ＩＴＵ—Ｒ ＳＭ．３２９—７．ｓ４．１ １ＧＨｚ—Ｆｃｌ一６０ＭＨｚ或２１ＯＯＭＨｚ（两者中的最大值） ［Ｆｃｌ一６０ＭＨｚ或２１ＯＯＭＨｚ］（两者中的最大值） －３０ ｄＢｍ ２５ ｄＢｍ １ ＭＨｚ ｉ ＭＨｚ Ｂａｎｄｗｉｄｔｈ ａｓ ｉｎ ＩＴＵ—Ｒ ＳＭ．３２９—７．ｓ４．１ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ １ｎ ａｃｃｏｒｄａｎｃｅ ｔｈ ＩＴＵ—Ｒ 到［Ｆｃｌ一５０ＭＨｚ或２１ ＯＯＭＨｚ］（两者中的最大值） ［Ｆｃ１—５０ＨＨｚ或２１ＯＯＭＨｚ］（两者中的最大值） 到［Ｆｃ２＋５ＯＭＨｚ或２１８０ＭＨｚ］（两者中的最小值） ［Ｆｃ２＋５ＯＭＨｚ或２１８０ＭＨｚ］（两者中的最小值） ＳＭ．３２９－８，ｓ４．３ａｎｄ Ａｎｎｅｘ ７ １ ５ ｄＢｍ １ ＭＨｚ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ ｉｎ ａｃｃｏｒｄａｎｃｅ ｗｉｔｈ ＩＴＵ—Ｒ ＳＭ．３２９—８，ｓ４．３ａｎｄ Ａｎｎｅｘ ７ ２５ ｄＢｍ １ ＭＨｚ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ ｉｎ ａｃｃｏｒｄａｎｃｅ ｗｉｔｈ ＩＴＵ—Ｒ 到［Ｆｃ２＋６ＯＭＨｚ或２１８０ＭＨｚ］（两者中的最小值） ＳＭ．３２９—８，ｓ４．３ａｎｄ Ａｎｎｅｘ ７ Ｂａｎｄｗｉｄｔｈ ａｓ｛ｎ ＩＴＵ—Ｒ ＳＭ．３２９—７．ｓ４．１． ［Ｆｃ２＋６ＯＭＨｚ或２１８０ ｒ－ＩＨｚ］（两者中的最小值）到１ ２．７５ＧＨ －３０ ｄＢｍ １ ＭＨｚ Ｕｐｐｅｒ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ａｓ ｉｎ ＩＴＵ—Ｒ ＳＭ．３２９—８， ｓ２．５ ｔａｂｌｅ １ 注：Ｆｃｌ为ＢＳ发射的第一个载波的中心频率 Ｆｃ２为ＢＳ发射的最后一个载波的中心频率 ￣，．＿。 Ｍ￥１７Ａｕｇｕｓｔ ２０１１……一……一一……一… 。．．．。 —…………………Ｍ粼 Ｎ０ ｖ０ＦＴ ０ＭＭ ＵＮＩ洲０Ｎｓ （１）最大混频器电平 看出，该频谱分析仪使用三级变频，每级混频器的 Ｉ ｄＢ压缩点不同。每一级混频器后都有一个带通滤 波器来抑制镜像信号。第一级滤波器的带宽是 ５０ ＭＨｚ，这样，离输入信号（载波）５０ ＭＨｚ以外的信 号不会进入到第二级混频器，类似地，第二级混频器 后的带通滤波器的带宽是１０ ＭＨｚ，离输入信号（载 波）１０ ＭＨｚ以外的信号不会进入到第三级混频器， 在第三级中频上，滤波器为２００ ｋＨｚ一５ ＭＨｚ。之后， 首先，从动态范围的高端考虑，在进行杂散测试 时，为了获得最大的动态范围，频谱分析仪的混频器 处的电平应在不压缩输入信号的情况下尽可能的 大。输入混频器处的电平等于输入信号的电平减去 频谱分析仪输入衰减器的值。换句话说，测量时，频 谱分析仪的输人衰减应设置得尽量小（在不发生信 号过载和功率压缩的前提下）。 最大混频器平实际上和测量的频点有关，测量 频率距输入信号的频偏会导致最大混频器平的变 化。这和频谱分析仪的结构有关，由图１为例进行说 明。 信号被对数放大和数字化。 图１中标出了每一级混频器的１ ｄＢ压缩点。偏 离载波频率５０ ＭＨｚ的信号只会加载到第一混频器 上。当测量频率离载波频率越来越近时 图１为某个型号的频谱分析仪（不同的频谱分 析仪，混频级数和频点不同）的简化框图，图中可以 （５０ ＭＨｚ一２０ ＭＨｚ之间），加载到第二混频器上的功 率电平越来越大，第一级滤波器不再对测试信号进 行衰减。当测试频率小 于２０ ＭＨｚ时候，第三级 混频器上加载的信号功 率电平也会越来越大， 此时，最大混频器电平 Ｐ１，ｚ＝１３ ｄＢｍ Ｐ￣＝１０ ｄＢｍ Ｐ１∞＝３ ｄＢｍ 也应该考虑第三级混频 器的１ ｄＢ压缩点。 图１频谱分析仪前端简化框图 表２特殊频段的抑制保护 频段 最大电平 测量带宽 备注 １ ９２０－１ ９８０ＭＨｚ １ ９２０－１ ９８０ＭＨｚ ９２１－９６０ＭＨｚ ８７６—９１ ５ＭＨｚ １ ８０５—１ ８５０ＭＨｚ １ ７１０一Ｉ ７５５ＭＨｚ １ ７５５—１ ７８５ＭＨｚ －９６ ｄＢｍ －４９ ｄＢｍ －５７ ｄＢｍ －９８ ｄＢｍ －４７ ｄＢｍ －９８ ｄＢｍ －９６ ｄＢｍ １ＯＯ ｋＨｚ １ ＭＨｚ １ＯＯ ｋＨｚ １Ｏ０ ｋＨｚ １ＯＯ ｋＨｚ ｌ０Ｏ ｋＨｚ ｌＯ０ ｋＨｚ ＢＳ接收频段，或与ｃｄｍａ２０００ ＢＳ共站时 与ｃｄｍａ２０００ ＢＳ共存时 与ＧＳＭ９００共存时 ＧＳＭ９００ ＢＴＳ与ＵＴＲＡ Ｎｏｄｅ Ｂ共址时 与ＤＳＣｌ８００共存时 ＤＳＣ１８００ ＢＴＳ与ＵＴＲＡ Ｎｏｄｅ Ｂ共址时 ２ＧＨｚ频段ＢＳ与补充频段ＢＳ共址时 １ ８５０—１ ８８０ＭＨｚ －５２ ｄＢｍ １ ＭＨｚ ２ＧＨｚ频段ＵＴＲＡ—ＦＤＤ与补充频段ＵＴＲＡ—ＦＤＤ共存时 １ ８９３．５—１ ９１ ９．６ＭＨｚ ２ １００—２ １０５ＭＨｚ －４１ ｄＢｍ 一３０＋３．４（ｆ－２１ＯＯＭＨｚ）ｄＢｍ ３００ ｋＨｚ １ ＭＨｚ 与ＰＨＳ共存时 与邻频带业务共存时 ２ ｌ ７５—２ Ｉ８０ＭＨｚ １ ８８Ｏ一１ ９２０ＭＨｚ －３０＋３．４（２ｌ８０ＭＨｚ—ｆ）ｄＢｍ １ ＭＨｚ 与邻频带业务共存时 ２ ０１０—２ ０２５ＭＨｚ ５２ ｄＢｍ １ ＭＨｚ 与ＴＤ—ＳＣＤＭＡ ＢＳ共存时 ｌ ８８Ｏ一１ ９２０ＭＨｚ ２ ０ｌＯ一２ ０２５ＭＨｚ ２ ３００－２ ４００ＭＨｚ ２ ３００—２ ４００ＭＨｚ －８６ ｄＢｍ －５２ ｄＢｍ －８６ ｄＢｍ １ ＭＨｚ １ ＭＨｚ ｉ ＭＨｚ 与ＴＤ—ＳＣＤＭＡ ＢＳ共址时 与ＴＤ—ＳＣＤＭＡ ＢＳ共存时 与ＴＤ—ＳＣＤＭＡ ＢＳ共址时 …… 曼曼塑堡墨 ９ 泰尔测试………………………・ ＶＴＴＬ Ｔｅｓｔ 为了正确地进行杂散测量，输入信号应设置成 低于频谱分析仪１ ｄＢ压缩点的某个值。０．２ ｄＢ去敏 点（ｄｅｓｅｎｓｉｔｉｚａｔｉｏｎ ｐｏｉｎｔ）是一个合理的值。ｄｅｓｅｎｓｉ— 正。例如：当仪表的技术指标给出的ＤＡＮＬ指标为 ｌＯ Ｈｚ下的值时，实际测量的噪声电平应该根据下 式计算： ｔｉｚａｔｉｏｎ ｐｏｉｎｔ的意思是对低电平信号测量影响低于 ０．２ ｄＢ时的混频器处的电平。 ＤＡＮＥ（ｎ Ｈｚ）＝ＤＡＮＬ（１０Ｈｚ）＋１０．１ｏｇ ＲＢＷ／Ｈｚ ｌ（１） 当使用１ ＭＨｚ的ＲＢＷ时候，噪声电平会比技 术指标里给出的ｌＯ Ｈｚ下的ＤＮＡＬ高５Ｏ ｄＢ。仪表技 —’＿＿－ ＿ —～ －Ｉ １－’’－＿ 、 、 、 、 ＇＇∞■电 １ Ｉ ｆ ｆ ｜ ｌ ｜ ｆ ＼ ｏｆＩ‘．＾ ａ婚‘■＞ｌｔ ｏ＿＊ ∞ｌ舱、 峨ｈＰｆ¨ 婶ｏ’ＩＩ －３０ －２５ －２０ —１５ —１０ —５ ０ ５ ’Ｏ ————————— 混频器电平／ｄＢｍ 图２某个型号频谱分析仪的去敏点／混频器电平曲线 结合一个实际的例子来分析。如图２所示，是某 个型号频谱分析仪的去敏点／混频器电平曲线。图 中可以看出，测量偏离载波２０ ＭＨｚ的ＣＷ信号时， 输入混频器处的电平为大约３ ｄＢｍ时候会对测量 结果带来约０．２ ｄＢ的影响。换句话说，当混频器处 电平为３ ｄＢｍ时候，杂散的测量结果会因为频谱仪 的压缩降低约０．２ ｄＢ，在实际测试中，这是一个可以 接受的测量误差，尤其是考虑到由于频谱仪的固有 噪声会使杂散测量的显示电平结果增大。另外，应注 意ＷＣＤＭＡ信号的峰值功率比平均功率高（因子 ８一ｌ０ ｄＢ）很多，当测量离载波很近的信号时候，峰值 信号可能会带来仪表的“ｏｖｅｒｌｏａｄ”显示。 （２）噪声门限 频谱分析仪的噪声门限是影响动态范围低端值 的一个重要因素。为了使频谱分析仪的热噪声对测 量结果的影响小于０．５ Ｂ，被测信号应具有至少１Ｏ ｄＢ的信噪比，也就意味着测量杂散信号时，频谱分 析仪的噪声门限电平最好应比杂散的限值低ｌ０ Ｂ。 频谱分析仪的噪声门限电平（ＤＡＮＬ）在仪表的技术 手册中可以查到。测量杂散时的频谱分析仪实际噪 声电平需要根据测量时的分辨力带宽ＲＢＷ进行修 《 兰 Ｑ三 ………………… 术手册里给出的ＤＡＮＬ值是在取样（ｓａｍｐｌｅ）检波下 进行视频或轨迹平均测试得的，考虑到对数和平均 过程，ＤＡＮＬ实际比噪声功率低２．５１ ｄＢ，在计算杂 散测试的仪表本底是否能满足测试要求时，要考虑 这个转换系数。 频谱分析仪的固有噪声功率和分辨力带宽 ＲＢＷ和参考电平有关。不同ＲＢＷ下的噪声特性会 ＾ ●●●●● ６ ５ ４ ３ ２ １ Ｏ １ Ｏ 一 影响频谱分析仪的固有噪声功率；而改变参考电平， 会对最后中频部分的中频放大的增益带来影响，同 样会影响频谱分析仪的固有噪声功率。 相对噪声电平／ｄＢ ０１ ０．１ １ １０ １００ １０００ １００００ １０００００ ＲＢＷｎＨｚ 图３固有的噪声功率电平相对于ＲＢＷ的变化 （以１ＯｋＨｚＲＢＷ为参考） 图３显示了某个型号频谱分析仪不同ＲＢＷ下 频谱分析仪噪声的变化，三角形的点是３ＧＰＰ杂散 测量时候用到的ＲＢＷ。通常，由于Ａ／Ｄ转换器的噪 声，１００ ｋＨｚ以下的数字滤波器（ＲＢｗ）比模拟滤波 器带来更多的噪声。 在衰减固定的条件下，通常参考电平越高，频谱 分析仪噪声也越高。图４中显示了某个型号频谱分 析仪的噪声一参考电平曲线。 由图４可以看出，为了获得更低的频谱分析仪 本底噪声，应该尽可能的降低参考电平。 （３）频谱仪的失真 …………………■■ｆ●，●●●●．●●●●●●●● ∞ 嚣 船 幅 坩 ５ ０ 固有噪声门限电平／ｄＢ ＲＢ ，Ｉ ＝３Ｏ 电 ／ 一一 ‘ 一一 一一 一一 一一 一一 一 ＿ ： ＇ｌ ＾Ｈ Ｚ 。锄 ４０ －伸 参考电平／ｄＢｍ 图４固有噪声门限电平相对于参考电平的关系 （以一３０ｄＢｍ参考电平下的噪声为参考值） 如前所述，杂散的测量需要频谱仪的动态范围 尽可能的高。为了达到高动态范围，要提高混频器电 平，但是很高的电平会带来频谱分析仪内部的非线 性失真，这同样也会影响测量结果，降低杂散测量的 动态范围。主要的杂散产物有三阶互调产物和谐波 产物。互调产物靠近载波，会影响ＡＣＰＲ等测量，而 谐波失真产物对杂散测量影响较大。 杂散测试中不仅受到输入信号谐波的影响，输 入信号和频谱分析仪内部本振混频产生的谐波失真 产物也会对杂散测试带来影响。在混频器处对产生 杂散信号贡献最大的是输入信号和第一本振的二， 三次谐波，输入信号和第一本振的二次谐波所产生 的杂散信号的频率如下式： １ｅｌ ０ｕＳ舵 （ｚ２）＝２ｘＦ （２） … Ｓｐｕｒｉｏｕｓ ｒｆｅｑｕｅｎｃｙ（２，２）为产生的杂散信号频 率，Ｆ ｉｎ＝输入信号的频率，１ｓｔ ＩＦ＝频谱分析仪的 第一中频频率，次要的杂散信号是输入信号的三次 谐波和本振的二次谐波产生的： Ｓｐｕｒｉｏｕｓｆｒｅｑｕｅｎｃｙ（３，２）＝１．５×Ｆ ．１ｓｔＩＦ２（３） Ｓｐｕｒｉｏｕｓ ｒｆｅｑｕｅｎｃｙ（３，２）为产生的杂散信号频 室 Ｆｉｎ＝输入信号的频率 １ｓｔ ＩＦ＝频谱分析仪的第一中频频率 这些杂散信号的电平与输入信号的功率有关。 Ｍ Ｎ０啪ｖ０ＦＴＥＬＥｃ０ＭＭｕＮ Ｎｓ 根据这一特性，适当降低输入信号功率可以优化动 态范围，使频谱分析仪内部产生的失真低于或者等 于噪声本底。 （４）平均功率测量和ＲＭＳ检波 杂散发射测量要求测量平均功率。对于噪声和 调制信号，峰值检波是不合适的，因为峰值功率并不 代表信号平均功率。我们可以使用取样或ＲＭＳ检波 器进行测量。 现在的频谱分析仪在ＣＲＴ上显示信号的频谱 波形，他的特点是无论是频率轴还是时间轴，显示的 样点数都是有限的，有限的频率分辨率会导致“丢失 信号”尤其是象杂散测试这样在一个很宽的频率范 围（ｓＰＡＮ）下用很窄的ＲＢＷ进行测量时。对于每一 个显示在屏幕上像素点功率值的取值，是和检波和 平均方式有关的。对于取样检波器，在一个像素点 内，对信号包络只进行一次采样，对于ＲＭＳ检波，对 信号包络以采样速率进行采样，所有采样的点的电 平进行ＲＭＳ计算。 ：Ｐｉｘｅｉ Ｎ ：Ｐｉｘｅｌ Ｎ＋Ｉ：Ｐｉｘｅｌ Ｎ＋２： ｆ 图５取样（ｓａｍｐｌｅ）和ＲＭＳ检波方式的不同 图５显示了ＲＢＷ的宽度远小于像素点宽度的 情况。像素点宽度可以通过下式计算：像素点宽度 ＝ＳＰＡＮ／样点数 使用取样检波器时，Ａ／Ｄ转换器在每个像素宽 度内只取样一次，例如像素宽度内的最后一个点。这 样当然会导致信息的丢失，因为一个像素宽度内的 所有信号功率被最后一个点的功率所代替，最后显 …～ 墨曼曼塑垦 璧 ｉ０ 示的信号波形也取决于像素的个数。但是很多频谱 分析仪在进行非连续波（Ｃｗ）测试时，如进行噪声或 Ｖ１＿ｒＬ Ｔｅｓｔ 泰尔测试………………………・ 者数字调制信号测试时只能选择取样检波器。使用 ＲＭＳ检波器的时候，频谱分析仪显示的像素点的功 率值是像素宽度内所有信号的ＲＭＳ功率值。ＲＭＳ 计算的电平测量误差与像素点宽度／ＲＢＷ有关，图 ３杂散限值与频谱分析仪动态范 围的估算 如前所述，频谱分析的动态范围可以估计出来， ６显示的是某个型号频谱仪电平误差和像素点宽度 他主要受限于这两点：混频器不产生信号压缩的电 ／ＲＢＷ的关系。 Ｕ —— ‘～ 电平 ＼、 －－误差 ０．１ ，ｄＢ －０．２ ＼ －０．３ Ｘ —０．４ ＼ －０．５ －０．６ ＼ ．７ ＼ －０．８ ＼ —０．９ ＼ ０ ０・１ ０．２ ０．３ ： 像素点宽度／ＩｔＢｗ 图６电平误差和像素点宽度／ＲＢＷ的关系 以图６为例，像素点宽度／ＲＢＷ比大约０．２３的 时候，会带来电平测量误差０．２ｄＢ。在仪表默认的情 况下，都有一个标准的测试点数，ＳＰＡＮ会受限于在 此情况下的功率测量误差。ＲＢＷ为１ ＭＨｚ，测量点 数为６２５的时候，最大的ＳＰＡＮ为１４０ ＭＨｚ。所以， 测量一个很宽的频率范围的时候，为了保证测量精 度，最好分成几个频率子段进行测试。或者，手动设 置增加频谱分析仪每次扫描的的测量点数（例如， Ｒ＆Ｓ公司ＦＳＵ标准测量点数为６２５，最大为１０００１， Ａｇｉｌｅｎｔ公司的Ｅ４４４ＯＡ最大测量点数为８１９２），这 样，测试频率跨度很大时，就算进行全频段一次扫描 测量，用ＲＭＳ检波也不会出现问题。根据允许的测 量误差，所需要的测量点数可以如下计算出来。 （１）先决定一个可接受的测量误差，如Ｏ．２ ｄＢ。 （２）对照上图，发现此时的像素点宽度／ＲＢＷ 比大约需要０．２３ （３）根据下式计算需要的测量点数： 测量点数＝ＳＰＡＮ／Ｏ．２３ ｘ ＲＢＷ 例如，对此型号的频谱仪，１ ＧＨｚ的ＳＰＡＮ，１ ＭＨｚ 的ＲＢＷ的条件下，需要最小４３４８的测量点数。 ￣ＭＳＴＴＡｕｇｕｓｔ２Ｏｌｌ……一……一……一 １——＿ｉｉｉ冀ｉｉｉｉｉｉｉｒ………平，大信号情况下的噪声本底。 我们以某个型号的频谱仪为例进行说明，根据 技术指标，该频谱仪的混频器ｌｄＢ压缩点为２ ｄＢｍ， 相对于４７ ｄＢｍ的基站发射功率，要求４５ｄＢ的衰减 （基站输出４７ ｄＢｍ一４５ ｄＢ＝２ ｄＢｍ）。但是，由于 ＷＣＤＭＡ信号具有很高峰值功率的特性，此时，频谱 分析仪会出现ｏｖｅｒｌｏａｄ的过载提示，虽然这基本不 会对最终测试结果产生影响。为了避免出现过载提 示，可以将输入衰减增加５ ｄＢ左右。我们以ＦＳＵ为 例（ＤＡＮＬ＝一１４５ ｄＢｍ／１０ Ｈｚ）来计算频谱分析仪 １ ＭＨｚ的ＲＢＷ时的本底（基站输出功率为４７ ｄＢｍ， 衰减设置为４５ ｄＢ）： ＤＡＮ－Ｌ＝一１４５ｄＢｍ＋５０ｄＢ＋２．５ｄＢ＝．９２．５ｄＢｍ （４） 式中，ＤＡＮＬ＝显示平均噪声门限电平 一１４５ ｄＢｍ＝ＦＳＵ的ＤＮＡＩＪ，１０Ｈｚ ５Ｏ ｄＢ＝１０ ｘ ｌｏｇ（１ ＭＨｚ／１０ Ｈｚ） ２．５ ｄＢ＝ＤＮＡＬ到ＲＭＳ功率的转换系数 考虑到使用了４５ ｄＢ的衰减器，它同时衰减了 载波信号和杂散信号，频谱分析仪测量杂散的实 际本底为一９２．５＋４５＝一４７．５ ｄＢｍ。这离Ｂ类限值 里１ ＭＨｚ最严酷的要求一３０ ｄＢｍ还有ｌ７．５ ｄＢ的裕 量，显然，只用频谱分析仪是可以完成测试的。接下 来我们考虑最严酷的情况，系统间共存时的杂散限 值要求如表３所示。 表３系统共存的杂散限值要求 频段 限值 最大值 测量带宽 ８７６ＧＳＭｇ００ ＢＴＳ与 ＵＴＲＡ －９１５ ＭＨｚ －９８ｄ Ｂｍ ｌＯ０ ｋＨｚ Ｎｏｄｅ Ｂ共址时 １８０５－１８５０ ＭＨｚ －４７ ｄＢｍ １Ｏ０ ｋＨｚ 与ＤＣＳｌ８００共存时 ｌ ７ｌ０一ｌ ７５５ ｂｌＨｚ －９８ ｄＢｍ ｌＯ０ ｋＨｚ Ｎ与ＤＣＳ１８００ ＢＴＳ与ＵＴＲＡ ｏｄｅ Ｂ共址时 ……………………Ｍ №啪ｖ０ＦＴ 此时的动态范围要求是频谱分析仪达不到的。 表４不同扫频段的最低样点数 Ｂａｎｄ ９ｋＨｚ＜一＞１５０ｋＨｚ １ ５０ｋＨｚ＜一＞３０ＭＨｚ ３０Ｍ Ｈｚ＜一＞１ＧＨｚ １Ｇ Ｈｚ＜一＞２．１ＧＨｚ ２．１８Ｇ Ｈｚ＜一＞１２．７５ＧＨｚ Ｍｉｎｉｍｕｍ ｎｕｍｂｅｒ ｏｆ ｐｏｉｎｔ ６１３ １２ ９７９ ４２１ ７３ ４ ７８３ ４５ ９５７ 所以必须使用陷波滤波器。现在频谱分析仪都具有 预放选件，由于限值很低，此项测试还需要打开预 放。我们仍以前面的条件为例： ＤＡＮＬ＝一１５７ｄＢｍ＋４０ｄＢ＋２．５ｄＢ＝一１１４＿５ｄＢｍ ＤＡＮＬ＝显示平均噪声门限电平，一１５２ ｄＢｍ ＝ＦＳＵ的ＤＮＡＬ／１０Ｈｚ，打开预放（Ｐｒｅａｍｐ ＯＮ），４０ ｄＢ ＝１０ Ｘ ｌｏｇ（１００ ｋＨｚ／１０ Ｈｚ），２．５ ｄＢ＝ＤＮＡＬ到 ＲＭＳ功率的转换系数，又假设实际测试用使用１Ｏ ｄＢ 的衰减器，频谱分析仪测量杂散的实际本底为 一下的测量结果，测量样点数是应该仔细考虑的。以前 节所述为例，测量时每次扫描频谱分析仪的样点数 不应低于下表４中数据。 ｌ１４．５＋１０＝一１０４．５ ｄＢｍ，离一９８ ｄＢｍ的限值为 ６．５ ｄＢ。考虑到ＦＳＵ在开预放时，输入功率为最高 一频谱分析仪的点数是有上限的，一般都比 １００００低，因此应注意，在测量点数达不到上表要求 下，为了准确测量，测试时应分段进行扫描。 衄 ２０ ｄＢｍ，基站输出信号４７ｄＢｍ经过１０ｄＢ衰减后为 ３７ ｄＢｍ，此时陷波滤波器对载波的衰减最小应为 ３７ ｄＢｍ一（一２０ ｄＢｍ）＝５７ ｄＢ 参考文献 ［１】张睿，周峰，郭隆庆．无线通信仪表与测试应用［Ｍ】．北京：人民邮电 出版社，２０１０． ４杂散测试系统示例 图７为杂散测试的实际系统。基站的输出口需 ［２１ Ａｇｉｌｅｎｔ公司．更好地进行频谱分析的８项提示． 【３］罗德与施瓦茨有限公司．频谱分析仪原理． ［４】泰克公司．使用实时频谱分析仪调试和检定宽带ＲＦ系统． ［５】罗德与施瓦茨有限公司．用频谱分析仪测量脉冲信号功率操作说 明书． 要很好的负载匹配，来保证输出放大器的稳定工作。 因此，基站输出首先连接到１０ ｄＢ的衰减器，来为基 站提供宽带负载并且起到衰减基站信号的作用。根 据前面的计算，发射频带和基站接收带外的杂散可 以用频谱分析仪和衰减器直接测量，此时候，除掉通 路中已有的４０ ｄＢ衰减，频谱分析仪的输入衰减还 应该合理设置以保证混频器和预放不过载。当测量 共存频带的杂散时，需要使用带阻滤波器。 共存频段之外频段的杂散测量频率跨度很大， （９ ｋＨｚ ｔｏ１２．７５ ＧＨｚ），为了更准确地获得ＲＭＳ检波 图７杂散测试系统 …一 墨 塑 塑 ０
