用于X射线相衬断层合成成像的探测器和成像系统[发明专利]

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专利名称：用于X射线相衬断层合成成像的探测器和成像系统专利类型：发明专利发明人：E·勒斯尔

申请号：CN201580063910.7申请日：20151117公开号：CN106999137A公开日：20170801

摘要：本发明涉及用于X射线相衬断层合成成像的X射线探测器布置(10)，用于X射线相衬断层合成成像的线探测器(1)，用于X射线相衬断层合成成像的成像系统(24)，用于X射线相衬断层合成成像的方法，以及用于控制这种布置的计算机程序元件和存储了这种计算机程序元件的计算机可读介质。所述X射线探测器布置(10)包括若干线探测器(1)。每个线探测器(1)被配置为在撞击这种线探测器(1)的X射线束(2)的至少一部分中探测莫尔图样。每个线探测器(1)包括若干探测器线(11)，其中，每个线探测器(1)的宽度W等于莫尔图样的一个周期或整数倍的周期。

申请人：皇家飞利浦有限公司

地址：荷兰艾恩德霍芬

国籍：NL

代理机构：永新专利商标代理有限公司

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